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電離輻射
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1
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α、β表面污染
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表面污染測定 第1部分:β發(fā)射體Eβmax >0.15MeV)和 α發(fā)射體GB/T 14056.1-2008
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進(jìn)口可用作原料的廢物放射性污染檢驗(yàn)規(guī)程SN/T 0570-2007
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2
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環(huán)境X、γ輻射劑量率
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環(huán)境核輻射監(jiān)測規(guī)定GB 12379-1990
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環(huán)境地表γ輻射劑量率測定規(guī)范
GB/T 14583-1993
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輻射環(huán)境監(jiān)測技術(shù)規(guī)范
HJ/T 61-2001
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進(jìn)口可用作原料的廢物放射性污染檢驗(yàn)規(guī)程
SN/T 0570-2007
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3
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X、γ輻射源工作場所照射量率
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環(huán)境地表γ輻射劑量率測定規(guī)范
GB/T 14583-1993
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輻射環(huán)境監(jiān)測技術(shù)規(guī)范
HJ/T 61-2001
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公司簡介